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J-GLOBAL ID：200903086174791250

非破壊評価装置およびマイクロ波照射装置

Inventor：
山本 弘

About 山本 弘


Applicant, Patent owner：
日立建機株式会社

About 日立建機株式会社


Agent (1)： 永井 冬紀
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2002322161
Publication number (International publication number)：2004156987
Application date： Nov. 06, 2002
Publication date： Jun. 03, 2004
Summary：
【課題】測定前の機器セッティングが容易である非破壊評価装置およびマイクロ波照射装置を提供する。【解決手段】非破壊評価装置100が有する誘電体レンズ31,32は、雰囲気との誘電率の差により入射したマイクロ波の進行方向を偏向させて射出する、両凸形状のレンズである。マイクロ波制御装置10で発振(発生)し、ケーブル11を介してホーンアンテナ20から照射(送信)されたマイクロ波は、誘電体レンズ31を透過することでマイクロ波の進行方向が平行となる。この平行となったマイクロ波が誘電体レンズ32を透過することで集束され、所定の焦点距離で焦点を結ぶ。この位置に置かれた被検査体40に照射されて反射したマイクロ波は、上記と逆の進行方向にてホーンアンテナ20へ戻る。そして、ケーブル11を介してマイクロ波制御装置10で受信される。【選択図】 図1
Claim (excerpt)：
マイクロ波を発生して被検査体を照射する照射手段と、 マイクロ波源で発生して照射されるマイクロ波の入射波を透過集束させる少なくとも1枚の集束レンズと、 前記集束レンズにより被検査体で集束されて反射する反射波を受信する受信手段と、 前記マイクロ波の入射波および前記反射波によって被検査体の内部を評価する評価手段とを備えることを特徴とする非破壊評価装置。
IPC (2)：
G01N22/02 ,  G01N22/00
FI (2)：
G01N22/02 A ,  G01N22/00 S
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (8)
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