Pat

J-GLOBAL ID：200903086342714860

回路素子の定数測定装置

Inventor： 島田 宏一 ,  柴田 勤 ,  清水 一樹
Applicant, Patent owner： 日置電機株式会社
Agent (1)： 大原 拓也
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992223316
Publication number (International publication number)：1994051004
Application date： Jul. 30, 1992
Publication date： Feb. 25, 1994
Summary：

【要約】【目的】 sin、cosテーブルおよび基準ベクトルとなる信号などが不要で、2つの信号の各1周期内からサンプリングされたデータから直接的に回路素子の各パラメータを求める。【構成】 被測定素子に印加される交流電圧Vおよび同被測定素子をとおして検出される交流電流Iの少なくとも1周期を所定の時間間隔にて同時的にサンプリングし、A/D変換してそれぞれN個のディジタルデータVi,Ii(i=1〜N)を得、これらのデータVi,Iiから変数AR,AXおよびHを演算するとともに、AR/HおよびAX/Hより少なくとも被測定素子の実効抵抗分Rとリアクタンス分Xとを求める。

Claim (excerpt)：

被測定素子に印加される交流電圧Vおよび同被測定素子をとおして検出される交流電流Iの少なくとも1周期を所定の時間間隔にて同時的にサンプリングしてそれぞれN個のディジタルデータVi,Ii(i=1〜N)に変換するA/D変換回路と、これらのデータVi,Iiから下記の式(1)〜(3)に基づいて変数AR,AXおよびHを演算するとともに、AR/HおよびAX/Hより少なくとも上記被測定素子の実効抵抗分Rとリアクタンス分Xとを求める演算処理手段とを備えていることを特徴とする回路素子の定数測定装置。【数1】【数2】【数3】

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (4)

• 特開昭52-026257
  
• 特開昭52-026257
  
• 特開平3-092770
  
• 特開平3-092770