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J-GLOBAL ID：200903086431403452

デバッグシステムのデバッグ方法

Inventor： 大井 浩一
Applicant, Patent owner： キヤノン株式会社
Agent (1)： 谷 義一 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1996173212
Publication number (International publication number)：1998021113
Application date： Jul. 03, 1996
Publication date： Jan. 23, 1998
Summary：

【要約】【課題】 ターゲットマシンとデバッグマシンの同期調整のために生じるトラブルをなくす。【解決手段】 ターゲットマシン102はデバッグの結果をメモリ102Aに記憶しておき、デバッグの終了後、デバッグマシン101からの指示に応じてメモリ102Aのデバッグの結果をデバッグマシン101に転送する。転送されたデバッグの結果がデバッグマシン101に表示される。

Claim (excerpt)：

デバッグ対象のソフトウェアをターゲットマシン上で動作させてデバッグを実行し、そのデバッグの結果をデバッグマシンに転送し、表示させることの可能なデバッグシステムのデバッグ方法において、前記デバッグを実行しながらそのデバッグの結果を前記デバッグマシンに転送する第1のモードと前記デバッグを実行しながらそのデバッグの結果を前記ターゲットマシンの内部の記憶装置に記憶する第2のモードを予め定めておき、前記第1のモードおよび第2のモードを択一的に指示し、当該指示されたモードが前記第1のモードの場合は前記ターゲットマシンはデバッグを実行しながらそのデバッグの結果を前記デバッグマシンに転送し、当該指示されたモードが前記第2のモードの場合はデバッグを実行しながらそのデバッグの結果を前記ターゲットマシンの内部の記憶装置に記憶することを特徴とするデバッグシステムのデバッグ方法。