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J-GLOBAL ID：200903086471097079

線状不良の検出方法

Inventor： 後藤 一夫
Applicant, Patent owner： ソニー株式会社
Agent (1)： 逢坂 宏
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993215168
Publication number (International publication number)：1995055717
Application date： Aug. 06, 1993
Publication date： Mar. 03, 1995
Summary：

【要約】【構成】 原画像から輝度異常部分を消去した第1の画像を得、この第1の画像と前記原画像との差をとることによって、前記輝度異常部分のみを抽出した第2の画像を得、この第2の画像をラベル付けし、このラベル付けされた画像の構成画素の割合を求めることによって、前記輝度異常部分に含まれるヒビ、キズ等の線状不良を検出する、線状不良の検出方法。【効果】 これまでは検出困難であったヒビ、キズ等の幅狭で微小な線状不良も確実に検出できる。しかも、この検出操作を自動化し、効率的かつ安定に行うことができる。

Claim (excerpt)：

対象物の原画像を画像処理することによって前記対象物の線状不良を検出するに際し、前記原画像から輝度異常部分を消去した第1の画像を得る工程と、この第1の画像と前記原画像との差をとることによって、前記輝度異常部分のみを抽出した第2の画像を得る工程と、この第2の画像をラベル付けする工程と、このラベル付けされた画像の構成画素の割合を求めることによって、前記輝度異常部分に含まれる線状不良を検出する工程とを有する、線状不良の検出方法。

IPC (4)：

G01N 21/88 ,  G06T 7/00 ,  G06T 5/20 ,  G11B 5/455

FI (2)：

G06F 15/62 400 ,  G06F 15/68 400 A