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J-GLOBAL ID：200903086512348286

形状計測方法

Inventor： 野々村 友佑
Applicant, Patent owner： 株式会社江川
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1996224548
Publication number (International publication number)：1998047936
Application date： Aug. 07, 1996
Publication date： Feb. 20, 1998
Summary：

【要約】【課題】 生体など不連続、半透明な物体のための形状計測方法【解決手段】2つ以上の空間周波数のパターンまたは1つ以上の周波数をもつパターンを生体の吸収、反射、透過特性にあわせ、個別にあるいは同時に計測物体に描画することにより空間的絶対位置形状情報を含む3次元形状計測ができ、さらに半透明な物体も計測できる。

Claim (excerpt)：

物体に所定のパターンを描画する描画手段と、その描画されたパターンを検出する検出手段を備え、検出されたパターンより物体の形状を求める形状演算手段を備える形状計測方法において、少なくとも2つ以上の異なる空間周波数成分を持つパターンを描画する描画手段を特徴とする形状計測方法。

IPC (3)：

G01B 11/24 ,  A61B 5/107 ,  G01N 21/84

FI (3)：

G01B 11/24 K ,  G01N 21/84 Z ,  A61B 5/10 300 Z