Pat
J-GLOBAL ID:200903086553273304

レーザー脱離/イオン化質量分析用試料ホルダーおよびその製造方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (5): 八田 幹雄 ,  奈良 泰男 ,  齋藤 悦子 ,  宇谷 勝幸 ,  藤井 敏史
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2004165821
Publication number (International publication number):2004361405
Application date: Jun. 03, 2004
Publication date: Dec. 24, 2004
Summary:
【課題】 レーザー脱離/イオン化質量分析により分析する試料をローディングするための試料ホルダーとその製造方法が開示される。【解決手段】 試料ホルダー100は、金属プレート110と、金属プレート110の表面に形成されて分析する試料130がローディングされる薄膜120とを具備し、前記薄膜120は炭素を含有した物質、すなわち炭素または黒鉛からなる。薄膜120は、炭素棒170をアーク放電させてスパッタリングすることによって金属プレート110の表面に蒸着でき、炭素または黒鉛粉末と揮発性溶媒とをペースト状態に混合した後、このペーストを金属プレートの表面に塗布することによって形成されうる。このような本発明によれば、マトリックスとシリコンオイルに影響を受けずに、高分子物質だけでなく500Da以下の低分子量の物質も容易で正確に分析でき、塩のような別のイオン化添加剤がなくてもポリマーの質量を測定できる。【選択図】 図5
Claim (excerpt):
レーザー脱離/イオン化質量分析により分析する試料をローディングするための試料ホルダーにおいて、 金属プレートと、 前記金属プレートの表面に形成され、分析する試料がローディングされる薄膜とを具備し、 前記薄膜は、炭素を含有した物質からなることを特徴とするレーザー脱離/イオン化質量分析用試料ホルダー。
IPC (2):
G01N27/62 ,  G01N27/64
FI (2):
G01N27/62 F ,  G01N27/64 B
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (1)
  • 米国特許US6,288,390号公報
Cited by examiner (3)

Return to Previous Page