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J-GLOBAL ID：200903086662882426

校正試料の作製方法

Inventor： 矢ヶ部 太郎 ,  宇治 進也
Applicant, Patent owner： 独立行政法人物質・材料研究機構
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2005033721
Publication number (International publication number)：2006220517
Application date： Feb. 10, 2005
Publication date： Aug. 24, 2006
Summary：

【課題】 容易に特異な構造を一意に決めることができ、かつ危険な化学薬品(酸やアルカリなど)などを用いないで校正試料を得ることができる校正試料の作製方法を提供する。【解決手段】 この出願の発明による校正試料の作製方法は、(110)面を鏡面研磨したLa2CuO4単結晶を230から500°Cの温度でアニールした後、徐冷することにより、(110)面に断面が鋸歯状の凹凸を有する双晶構造の校正試料を作製することを特徴とする。【選択図】 なし

Claim (excerpt)：

(110)面を鏡面研磨したLa2CuO4単結晶を230から500°Cの温度でアニールした後、徐冷することにより、(110)面に断面が鋸歯状の凹凸を有する双晶構造の校正試料を作製することを特徴とする校正試料の作製方法。

IPC (2)：

G01N 1/00 ,  G01N 13/16

FI (2)：

G01N1/00 102B ,  G01N13/16 A

F-Term (10)：

2F069AA60 ,  2F069DD26 ,  2F069FF07 ,  2F069HH30 ,  2G052AA39 ,  2G052AD32 ,  2G052AD52 ,  2G052EB11 ,  2G052GA36 ,  2G052JA04