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J-GLOBAL ID：200903086673647496

反射吸光光度分析による試料液体中の電解質分析方法

Inventor： 實吉 繁幸
Applicant, Patent owner： 株式会社テクノメデイカ
Agent (1)： 八木田 茂 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992003778
Publication number (International publication number)：1993196613
Application date： Jan. 13, 1992
Publication date： Aug. 06, 1993
Summary：

【要約】【目的】 反射吸光光度分析を適用するのが困難であった試料液中の電解質を分析可能する方法の提供。【構成】 試料液体中の分析すべき電解質の種類に応じて選ばれる選択的イオン感応性比色試薬を保持させたポリマー性メンブランに試料液体を付着させ、試料液体中の電解質を試薬と反応させて吸光度に変化を生じさせ、次いで前記メンブランに光を照射し、メンブランを透過した反射光の吸光度変化を測定する。試薬としては、陽イオンに対してはキノイド構造を有するフェノキサジン系化合物等、陰イオンに対してはニトロフェニルアゾ-フェニル系化合物等が用いられる。

Claim (excerpt)：

試料液体中の分析すべき電解質の種類に応じて選ばれる、陽イオンに対してはキノイド構造を有するフェノキサジン系化合物、クロモジェニッククラウン化合物、フェナントロリン系化合物又はクロモジェニックスフェランド系化合物、陰イオンに対してはニトロフェニルアゾ-フェノール系化合物からなる選択的イオン感応性比色試薬を保持させた比色フィルムに試料液体を付着させ、試料液体中の電解質を前記試薬と反応させて吸光度に変化を生じさせ、次いで前記比色フィルムに光を照射し、比色フィルムを透過した反射光の吸光度の変化を測定する反射吸光光度分析による試料液体中の電解質分析方法。

IPC (4)：

G01N 31/00 ,  G01N 21/78 ,  G01N 31/22 121 ,  G01N 33/84

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (2)

• 特開昭62-157554
  
• 特開昭60-003333