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J-GLOBAL ID：200903086677503162

放射線検出装置

Inventor： 山崎 貴史 ,  山岸 喜代志
Applicant, Patent owner： 三井金属鉱業株式会社
Agent (1)： 伊東 辰雄 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993031111
Publication number (International publication number)：1994224457
Application date： Jan. 28, 1993
Publication date： Aug. 12, 1994
Summary：

【要約】【目的】 入射X線に対し一部を選択的に透過し、かつ高感度の放射線検出装置を提供する。【構成】 固体シンチレータ材料と半導体光検出素子を組み合わせた放射線検出装置であって、前記固体シンチレータ材料が膜成長技術により該半導体光検出素子上に直接、あるいは基材上に膜形成されていることを特徴とする放射線検出装置。

Claim (excerpt)：

固体シンチレータ材料と半導体光検出素子を組み合わせた放射線検出装置であって、前記固体シンチレータ材料が膜成長技術により該半導体光検出素子上に直接に膜形成されていることを特徴とする放射線検出装置。

IPC (3)：

H01L 31/09 ,  G01T 1/20 ,  G01T 1/24

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (1)

• ヘツド搭載構造
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平3-275578   Applicant：セイコーエプソン株式会社