Pat
J-GLOBAL ID:200903086719715408

電極用水素吸蔵合金の評価方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 松尾 智弘
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1993280623
Publication number (International publication number):1995111152
Application date: Oct. 13, 1993
Publication date: Apr. 25, 1995
Summary:
【要約】【構成】評価すべき水素吸蔵合金と同組成の水素吸蔵合金(検量線作成用水素吸蔵合金)について、パラメータと実際の電極特性との対応を示す検量線を予め作成しておき、その後は、評価すべき水素吸蔵合金についてのパラメータの値を上記検量線と照合するだけで、評価すべき水素吸蔵合金の実際の電極特性を予測する。【効果】水素吸蔵合金の電極特性を迅速に評価することができる。
Claim (excerpt):
格子面(h。k。l。)面に選択配向性を有し、且つ、評価すべき水素吸蔵合金Eと合金組成を同じくする、合金組織を互いに異にする複数の検量線作成用水素吸蔵合金M1 ,M2 ,...,MX についての下式(A)を満足する関数F(φ)中のパラメータPの値P1 ,P2 ,...,PX を、前記検量線作成用水素吸蔵合金M1 ,M2 ,...,MX と、基準となる水素吸蔵合金Sとの、任意に選択した格子面(h1 k1 l1 )面,(h2 k2 l2 )面,...,(hX kX lX )面におけるX線回折ピークの積分強度比IM1(h1k1l1)/Is(h1k1l1) ,IM2(h2k2l2)/Is(h2k2l2) ,...,IMX(hXkXlX)/Is(hXkXlX) 、及び、前記格子面(h1 k1 l1)面,(h2 k2 l2 )面,...,(hX kX lX )面と前記格子面(h。k。l。)面とのなす角φ1 2 ,...,φX を、それぞれ下式(A)中のI(hkl) /Is(hkl)及びφに代入することにより求めるステップ(1)と、前記P1 ,P2 ,..., Px と、前記検量線作成用水素吸蔵合金M1 ,M2 ,..., MX の電極材料としての特性を表す実測値T1 ,T2 ,..., TX との対応を示す検量線を作成するステップ(2)と、前記評価すべき水素吸蔵合金Eについての前記パラメータPの値PE を、当該評価すべき水素吸蔵合金Eと、前記基準となる水素吸蔵合金Sとの、任意に選択した格子面(hE1kE1lE1)面,(hE2kE2lE2)面,...,(hEYkEYlEY)面におけるX線回折ピークの積分強度比IE1(hE1KE1lE1) /Is(hE1kE1lE1),IE2(hE2KE2lE2) /Is(hE2kE2lE2),...,IEY(hEYKEYlEY) /Is(hEYkEYlEY)、及び、前記格子面(hE1kE1lE1)面,(hE2kE2lE2)面,...,(hEYkEYlEY)面と前記格子面(h。k。l。)面とのなす角φE1E2,...,φEYを、それぞれ下式(A)中のI(hkl) /Is(hkl)及びφに代入することにより求めるステップ(3)と、前記PE を前記検量線と照合して、前記評価すべき水素吸蔵合金Eの電極材料としての特性を推定するステップ(4)とを有してなる電極用水素吸蔵合金の評価方法。 F(φ)=I(hkl) /Is(hkl) ...(A)〔但し、式中、I(hkl) は格子面(hkl)面における前記検量線作成用水素吸蔵合金M1 ,M2 ,...,MX 又は前記評価すべき水素吸蔵合金EのX線回折ピークの積分強度;Is(hkl)は前記基準となる水素吸蔵合金Sの前記格子面(hkl)面におけるX線回折ピークの積分強度;F(φ)は、前記検量線作成用水素吸蔵合金M1 ,M2 ,...,MX 又は前記評価すべき水素吸蔵合金Eの合金組織に対応して変化し、それらの電極材料としての特性を一義的に決定するパラメータPを有するφの関数;φは前記格子面(h。k。l。)面と前記格子面(hkl)面とのなす角(単位:ラジアン)である。〕

Return to Previous Page