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J-GLOBAL ID:200903086732959375

レチクル及びその製造方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 井桁 貞一
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1991145114
Publication number (International publication number):1993088347
Application date: Jun. 18, 1991
Publication date: Apr. 09, 1993
Summary:
【要約】【目的】本発明は、位相シフトレチクルに関し、位相シフタの欠陥の修復が容易な位相シフトレチクルとその製造方法を提供することを目的とする。【構成】光透過領域を、光の入射方向に略垂直な第1表面を有する第1の透過領域と、第1表面に略平行かつ第1表面とは高さが異なる第2表面を有する第2の透過領域と、第1表面に略平行かつ第1および第2表面とは高さが異なる第3表面を有する第3の透過領域とを具備するように形成し、そして、第1の透過領域を透過する第1の光は、第2の透過領域を透過する第2の光とはその位相を異にし、かつ、第3の透過領域を透過する第3の光とは実質的に同一の位相となるように形成して構成する。
Claim (excerpt):
透明基板上に形成された遮光膜によって画定されてなる光透過領域を有するレチクルであって、該光透過領域は、光の入射方向に略垂直な第1表面を有する第1の透過領域と、第1表面に略平行かつ第1表面とは高さが異なる第2表面を有する第2の透過領域と、第1表面に略平行かつ第1および第2表面とは高さが異なる第3表面を有する第3の透過領域を具備してなり、第1の透過領域を透過する第1の光は、第2の透過領域を透過する第2の光とはその位相を異にし、かつ、第3の透過領域を透過する第3の光とは実質的に同一の位相となるように構成されてなることを特徴とするレチクル。
IPC (2):
G03F 1/08 ,  H01L 21/027
FI (2):
H01L 21/30 301 P ,  H01L 21/30 311 W
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (2)
  • 特開平4-000449
  • 特開平4-288542

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