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J-GLOBAL ID：200903086769031771

輪郭補正器

Inventor： 浅田 良次 ,  西川 彰治
Applicant, Patent owner： 松下電器産業株式会社
Agent (1)： 小鍜治 明 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1994120207
Publication number (International publication number)：1995327152
Application date： Jun. 01, 1994
Publication date： Dec. 12, 1995
Summary：

【要約】【目的】 輪郭補正においてバランスの取れた輪郭信号形成とS/N劣化を防止できる輪郭補正器を提供する。【構成】 輪郭信号形成において入力信号の立ち上り期間,立ち下がり期間を検出する立ち上り期間,立ち下がり期間検出回路8と、前記検出回路8の出力信号により輪郭信号のゲインを選択するゲインセレクト回路9と前記ゲインセレクト回路9の出力信号により輪郭信号のゲインを変える乗算器等により構成され、立ち上り期間,立ち下がり期間で輪郭信号のゲインを変えバランスを取る。また信号のフラットな期間を検出するフラット期間検出回路19を備え、検出信号により信号のフラットな期間での輪郭信号のゲインを抑えS/N劣化を防止する。

Claim (excerpt)：

輝度信号あるいは輝度信号に類似する入力信号を任意時間tdだけ遅延する第1の遅延回路と、前記第1の遅延回路の出力をさらにtdだけ遅延する第2の遅延回路と、前記第1及び第2遅延回路の出力信号より水平の輪郭信号を形成する水平輪郭信号形成回路と、前記入力信号と第1及び第2の遅延回路の出力信号より水平輪郭信号形成において入力信号の立上り期間と立ち下がり期間を検出しそれぞれの期間に応じたコントロール信号を出力する立ち上がり期間,立ち下がり期間検出回路と、前記立上り期間,立ち下がり期間検出回路の出力のコントロール信号により前記入力信号の立上り期間,立ち下がり期間に対応して前記水平輪郭信号のゲインを切り変えるゲインセレクト回路とを有したことを特徴とする輪郭補正器。