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J-GLOBAL ID：200903086803922478
分光光度計
Inventor：
,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
武石 靖彦
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992041775
Publication number (International publication number)：1993240783
Application date： Feb. 28, 1992
Publication date： Sep. 17, 1993
Summary：
【要約】【目的】 試料への光束の入反射角をきわめて小さくしなければならない場合や垂直入射光に対する反射率特性を測定しなければならない場合に好適な分光光度計を提供する。【構成】 測定光束を反射および透過の二方向に分岐する半透鏡と、分岐された光束の一方に対して試料を保持する機構と、試料からの反射光束を前記半透鏡で再度分岐しその反射光束または透過光束の一方を測光する検出機構とからなる分光光度計。
Claim (excerpt)：
測定光束を反射・透過の二方向に分岐する半透鏡と、分岐された光束の一方に対して試料を保持する機構と、試料からの反射光束を前記半透鏡で再度分岐しその反射光束または透過光束の一方を測光する検出機構とからなる分光光度計。
IPC (3)：
G01N 21/27
, G01J 3/02
, G01J 3/42
Cited by examiner (8)
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