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J-GLOBAL ID：200903086863434502

部品の品質検査方案作成システムにおけるデータ解析方案作成装置

Inventor： 永野 洋史 ,  高倉 敬司 ,  汲田 善一郎
Applicant, Patent owner： 本田技研工業株式会社
Agent (1)： 千葉 剛宏 (外3名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992222584
Publication number (International publication number)：1994068328
Application date： Aug. 21, 1992
Publication date： Mar. 11, 1994
Summary：

【要約】【目的】検査対象部品に対する品質検査方案の作成において、実験モードで計測されたデータに基づいたデータ解析方案を容易、且つ迅速に作成することのできる部品の品質検査方案作成システムにおけるデータ解析方案作成装置を提供する。【構成】データ解析部は解析用CPU40と、解析のための方案を記憶する解析方案記憶回路41と、実験モードで得られたデータからグラフを作成するグラフ作成回路42と、前記グラフから新たな測定項目を求める測定項目演算回路44と、解析のための判定パターンを記憶する判定パターン記憶回路46と、選択された前記判定パターンに設定された判定条件に基づいてデータ解析方案を生成する解析方案生成回路48とを備える。

Claim (excerpt)：

検査対象部品からサンプリングされた複数種類の測定データに基づいて、品質検査用データ解析方案を作成する装置であって、表示手段に表示された前記検査対象部品の測定データから、データ解析方案の作成に用いられる測定データを選択する測定データ選択手段と、前記選択された測定データを前記表示手段にグラフ表示するためのグラフデータを作成するグラフ作成手段と、前記表示されたグラフから複数の判定データを抽出する判定データ抽出手段と、前記判定データの夫々に対応した判定方案のパターンを記憶する判定パターン記憶手段と、前記表示手段上で選択された判定データに基づいて前記判定パターン記憶手段から読み出された判定方案のパターンに対し、判定条件を前記表示手段上で設定する判定条件設定手段と、前記判定パターンに設定された判定条件に基づいてデータ解析方案を生成する解析方案生成手段と、を備えることを特徴とする部品の品質検査方案作成システムにおけるデータ解析方案作成装置。

IPC (4)：

G07C 3/14 ,  G01N 21/88 ,  G06F 15/20 ,  G06F 15/46