Pat
J-GLOBAL ID：200903086913566430
蛍光相関分光解析装置
Inventor：
,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
長谷川 芳樹 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2000004698
Publication number (International publication number)：2001194305
Application date： Jan. 13, 2000
Publication date： Jul. 19, 2001
Summary：
【要約】【課題】 走査型FCSの採用を可能とするとともに光収集効率の高い共焦点光学系を有し蛍光測定のS/N比が優れた蛍光相関分光解析装置を提供する。【解決手段】 励起光源11から出力された励起光は、X軸ガルバノメータミラー13およびY軸ガルバノメータミラー14等を経て、対物レンズ22に入射して被測定試料2に集光照射される。被測定試料2で発生した蛍光は、対物レンズ22および結像レンズ25等を経て、光検出器31の光電面上に結像される。この光検出器31では、光電面で発生した光電子はイメージ部においてアパーチャプレート上に電子像として結像され且つ偏向され、アパーチャを通過した電子が増倍され出力される。光検出器31から出力された信号の自己相関関数が解析部40において求められ、この自己相関関数に基づいて、被測定試料中の蛍光分子の拡散運動が解析される。
Claim (excerpt)：
視野内の被測定試料中の蛍光分子の拡散運動を解析する蛍光相関分光解析装置であって、前記視野内において点状の励起光を前記被測定試料に照射するとともに、前記被測定試料における励起光照射位置を調整する照射位置調整手段を有する励起光照射光学系と、前記励起光照射光学系により励起光が照射された前記被測定試料中の蛍光分子から発生した蛍光を結像する蛍光結像光学系と、前記蛍光結像光学系により結像された蛍光の像面位置に設けられ蛍光光子の入射に伴い光電子を発生させる光電面と、この光電面で発生した光電子を電子像として結像するとともに該光電子を偏向させるイメージ部と、このイメージ部により結像された電子像のうちアパーチャに到達した部分の光電子を通過させるアパーチャプレートと、このアパーチャを通過した光電子を増倍して2次電子を発生させる増倍部と、この増倍部で発生した2次電子の個数に応じた信号を出力する陽極と、を有する光検出器と、前記励起光照射光学系の前記照射位置調整手段による前記被測定試料への励起光照射位置の調整と、前記光検出器の前記イメージ部による光電子の偏向とを、互いに関連させて制御する制御手段と、前記光検出器の陽極から出力された信号の自己相関関数を求め、この自己相関関数に基づいて前記被測定試料中の蛍光分子の拡散運動を解析する解析部と、を備えることを特徴とする蛍光相関分光解析装置。
FI (2)：
G01N 21/64 Z
, G01N 21/64 E
2G043AA03
, 2G043CA03
, 2G043EA01
, 2G043FA01
, 2G043FA02
, 2G043GA02
, 2G043GB01
, 2G043GB19
, 2G043GB21
, 2G043HA01
, 2G043HA02
, 2G043HA09
, 2G043JA03
, 2G043KA09
, 2G043LA01
, 2G043LA02
