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J-GLOBAL ID：200903086925168383

位置および配向の磁気測定

Inventor： アッカー,ディヴィッド,エリス ,  マクナルティ,イアン ,  パチェコ,ロバート,シー. ,  グランドゥナー,ウェイン
Applicant, Patent owner： バイオセンス,インコーポレイテッド
Agent (1)： 薬師 稔 (外1名)
Gazette classification：公表公報
Application number (International application number)：1995511002
Publication number (International publication number)：1997503410
Application date： Oct. 06, 1994
Publication date： Apr. 08, 1997
Summary：

【要約】磁気よる位置および配向測定系は、検出空間の対向する側部に配置されたヘルムホルツコイル(34、36、38)からの均一な場と、同じコイルが発生するグラジェント場からなるのが望ましい磁場を使用する。これらの磁場の印加の際にプローブ(50)において検出される場成分を監視することにより、場におけるプローブ(50)の位置および配向を推測することができる。プローブ(50)の表示(108)を被検体の別に取得された画像に重畳して、被検体に対してプローブ(50)の位置および配向を示すことができる。

Claim (excerpt)：

(a)検出空間(32)において複数の異なる磁場を発生する磁石手段(34、36、38)を備え、前記各場は前記検出空間内の基準方向の距離に対して擬線形の大きさを有する少なくとも1つの成分を有し、前記大きさは前記検出空間(32)内の少なくとも幾つかの位置において非ゼロであり、更に、 (b)前記場を所定のシーケンスで発生するように前記磁石手段(34、36、38)を作動させる制御手段(42)と、 (c)対象に接続されかつ前記検出空間(32)内で可動のセンサ(60)とを備え、該センサはセンサ(60)に対して少なくとも2つの異なる局部方向の磁場成分を検出するようになっており、更に (d)前記場の発生の際に検出される前記磁場成分から前記センサ(60)の位置を定める計算手段(46)を備えることを特徴とする対象の位置を測定する装置。

IPC (3)：

A61B 1/00 300 ,  A61B 5/107 ,  G01B 7/004

FI (3)：

A61B 1/00 300 P ,  A61B 5/10 300 Z ,  G01B 7/03

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (7)

• 特表平1-500931
  
• 特開平3-228741
  
• 特開昭59-062038
  
• 特開平4-008343
  
• 特開平3-162653
  
• 特開昭61-125324
  
• 特開昭55-166136