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J-GLOBAL ID：200903086947880214

ラマン分光分析と粒度分布測定を同時に行う分析装置

Inventor：
佐竹 司

About 佐竹 司


Applicant, Patent owner：
株式会社堀場製作所

About 株式会社堀場製作所


Agent (1)： 藤本 英夫
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1999138049
Publication number (International publication number)：2000329682
Application date： May. 19, 1999
Publication date： Nov. 30, 2000
Summary：
【要約】【課題】 同一試料の同一部分に対して、ラマン分光分析および粒度分布測定を同時に、正確に、かつ迅速に行うことが可能なラマン分光分析と粒度分布測定を同時に行う分析装置を提供する。【解決手段】 レーザー光源2から試料Sに向けてレーザー光を照射し、生じたラマン散乱光のラマン・スペクトルを用いることで試料Sの同定および定量分析を行うラマン分光分析器Rと、前記レーザー光照射により生じた散乱光および透過光を用いて粒度分布を測定する粒度分布測定器Pとよりなり、前記レーザー光源2をラマン分光分析と粒度分布測定に併用した。
Claim (excerpt)：
レーザー光源から試料に向けてレーザー光を照射し、生じたラマン散乱光のラマン・スペクトルを用いることで試料の同定および定量分析を行うラマン分光分析器と、前記レーザー光照射により生じた散乱光および透過光を用いて粒度分布を測定する粒度分布測定器とよりなり、前記レーザー光源をラマン分光分析と粒度分布測定に併用することを特徴とするラマン分光分析と粒度分布測定を同時に行う分析装置。
IPC (2)：
G01N 15/02 ,  G01N 21/65
FI (2)：
G01N 15/02 A ,  G01N 21/65
F-Term (17)：
2G043AA01 ,  2G043AA03 ,  2G043CA06 ,  2G043EA03 ,  2G043EA13 ,  2G043FA06 ,  2G043GA04 ,  2G043GB01 ,  2G043GB03 ,  2G043GB18 ,  2G043HA01 ,  2G043HA02 ,  2G043HA09 ,  2G043JA03 ,  2G043KA09 ,  2G043LA01 ,  2G043MA01
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (1)

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