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J-GLOBAL ID：200903086974112822

高周波における金属透磁率の測定方法および測定装置

Inventor： 安藤 正道 ,  辻 政則 ,  石川 容平
Applicant, Patent owner： 株式会社村田製作所
Agent (1)： 小森 久夫
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1996161570
Publication number (International publication number)：1998010217
Application date： Jun. 21, 1996
Publication date： Jan. 16, 1998
Summary：

【要約】【課題】 高周波デバイスに用いられる金属材料の透磁率を簡易に且つ高精度に測定する。【解決手段】 TE01δモード誘電体共振器1に対して同軸上に試料6を配置し、外部から直流磁場Hexを印加するとともに、その磁場変化に伴う共振周波数の変化を測定し、それを基に試料6の透磁率を算出する。

Claim (excerpt)：

共振器内の磁場のみが存在する箇所に試料を設け、前記共振器の外部から前記試料に一様な直流磁場を印加し、該磁場を変化させるとともに前記共振器の共振周波数を測定し、前記磁場の変化による共振周波数の変化を、前記磁場の変化による試料の透磁率の変化と共振磁場が浸透しうる表皮深さによって定まる体積の変化との積に換算して試料の透磁率を求める、高周波における金属透磁率の測定方法。

IPC (3)：

G01R 33/12 ,  G01N 27/72 ,  G01N 33/20

FI (3)：

G01R 33/12 Z ,  G01N 27/72 ,  G01N 33/20 G