Pat

J-GLOBAL ID：200903087012918244

スピン偏極走査型トンネル顕微鏡

Inventor： 児玉 宏喜 ,  渦巻 拓也
Applicant, Patent owner： 富士通株式会社
Agent (1)： 平戸 哲夫
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1998179479
Publication number (International publication number)：2000009626
Application date： Jun. 26, 1998
Publication date： Jan. 14, 2000
Summary：

【要約】【課題】スピン偏極走査型トンネル顕微鏡に関し、試料の各磁区ごとに試料表面の凹凸状態に起因するトンネル電流と磁化状態に起因するトンネル電流とを別々に測定できるようにし、試料表面の凹凸状態と試料の各磁区の磁化状態とを高精度に観測することができるようにする。【解決手段】GaAs探針11で試料8を走査し、各磁区ごとにGaAs探針11に直線偏光、左円偏光及び右円偏光を順に照射し、各偏光を照射した場合のトンネル電流を測定し、凹凸状態に起因するトンネル電流値は、GaAs探針11に直線偏光を照射することにより得、各磁区の磁化状態に起因するトンネル電流値は、GaAs探針11に左右の円偏光を照射した場合のトンネル電流値からGaAs探針11に直線偏光を照射した場合のトンネル電流値を減算して得るようにする。

Claim (excerpt)：

試料にスピン偏極電子を注入するための探針と、前記探針に直線偏光、左円偏光及び右円偏光を切り換えて照射することができる光源と、前記試料と前記探針との間に流れるトンネル電流を測定するトンネル電流測定手段とを備えていることを特徴とするスピン偏極走査型トンネル顕微鏡。

IPC (3)：

G01N 13/12 ,  G01B 7/30 ,  H01J 37/28

FI (3)：

G01N 37/00 B ,  G01B 7/30 Z ,  H01J 37/28 X

F-Term (10)：

2F063AA43 ,  2F063CA09 ,  2F063DA01 ,  2F063DA04 ,  2F063DB05 ,  2F063DC08 ,  2F063DD02 ,  2F063EA16 ,  2F063FA07 ,  2F063JA04