放射性表面汚染検査装置および放射線表面汚染検査方法

Inventor： , ,
Applicant, Patent owner：
Agent (2)：菊池治 , 大胡典夫
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2007134982
Publication number (International publication number)：2008292166
Application date： May. 22, 2007
Publication date： Dec. 04, 2008
Summary：

【課題】被検査対象の放射性汚染を、小面積の検出器により局所的な汚染を測定した場合と同程度の検出限界性能を持ちつつ、大面積を一度に検査できるようにする。【解決手段】放射性表面汚染検査装置に、平面状の検出領域に入射した放射線を検出する放射線検出器21と、検出領域をメッシュ状に分割した区画のうちのいずれの区画に放射線が入射したかを特定する入射位置演算器22と、放射線の量を入射した区画ごとに積算した区画放射線積算量を記憶するカウント保持器23と、連続する区画を組み合わせて設けられた設定領域のそれぞれに対してこの設定領域に属する区画に対応する区画放射線積算量を足し合わせて設定領域放射線積算量を求める設定領域積算器24とを備える。【選択図】図1

Claim (excerpt)：

平面状の検出領域に入射した放射線を検出する放射線検出器と、前記検出領域をメッシュ状に分割した区画のうちのいずれの区画に前記放射線が入射したかを特定する入射位置演算器と、前記放射線の量を入射した前記区画ごとに積算した区画放射線積算量を記憶するカウント保持器と、連続する前記区画を組み合わせて設けられた設定領域のそれぞれに対してこの設定領域に属する前記区画に対応する前記区画放射線積算量を足し合わせて設定領域放射線積算量を求める設定領域積算器と、を有することを特徴とする放射性表面汚染検査装置。

IPC (2)：

G01T 1/169 , G01T 1/20

FI (3)：

G01T1/169 A , G01T1/20 G , G01T1/20 F

F-Term (16)：

2G088EE17 , 2G088FF04 , 2G088FF05 , 2G088FF06 , 2G088GG11 , 2G088GG18 , 2G088GG20 , 2G088JJ03 , 2G088JJ06 , 2G088KK06 , 2G088KK11 , 2G088KK27 , 2G088KK32 , 2G088KK35 , 2G088LL11 , 2G088MM09

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (2)

放射線検出装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2000-036456 Applicant：株式会社東芝
放射線検出装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2000-060494 Applicant：原子燃料工業株式会社

Cited by examiner (2)

特開平4-301785
放射線検出装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平8-062258 Applicant：アロカ株式会社

Article cited by the Patent：

Cited by examiner (1)

第12回放射線夏の学校放射線検出器の波形識別技術放射線賞(奨励賞)を受賞して

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