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J-GLOBAL ID：200903087041062022

物質の特性測定方法、物質の特性測定装置

Inventor：
尾股 定夫

About 尾股 定夫


Applicant, Patent owner：
学校法人 日本大学

About 学校法人 日本大学


Agent (1)： 吉田 研二 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2001078999
Publication number (International publication number)：2002272743
Application date： Mar. 19, 2001
Publication date： Sep. 24, 2002
Summary：
【要約】【課題】 生体を解剖、開腹して被測定物質との間に介在する他の生体組織物質を取り除く等の必要なく、振動伝達特性の応答を利用した生体内部の被測定物質の硬さに対応する特性値を容易に測定することである。【解決手段】 パルス入射手段、パルス受信手段からなるセンサ(12)と、その入射波、反射波の周波数成分分析部(14)と、その入射波、反射波のスペクトル分布を比較して、それぞれの周波数fxにおける入射波の位相と反射波の位相の差である位相差θxを特定する周波数位相差特定部(15)と、その周波数fxと位相差θxを入力して、基準として予め求めておいた基準伝達特性曲線を用いて演算して、前記入力した位相差θxをゼロにするときの周波数の変化dfを求める位相差補償演算部(16)を有し、このdfから物質の硬さを得ることを特徴とする。
Claim (excerpt)：
被測定物質に入射されたパルス波の周波数成分分析を行なって、各正弦波成分の周波数と、その周波数における正弦波成分と余弦波成分とから求められる位相差のスペクトル分布を求める入射波周波数成分分析工程と、入射されたパルス波が、被測定物質から反射されてくる反射波の周波数成分分析を行なって、各正弦波成分の周波数と、その周波数における正弦波成分と余弦波成分とから求められる位相差のスペクトル分布を求める反射波周波数成分分析工程と、前記入射波のスペクトル分布と前記反射波のスペクトル分布を比較して、それぞれの周波数fxにおける、その入射波の位相と反射波の位相の差である位相差θxを特定する周波数位相差特定工程を有していて、これらのfxとθxの値から物質の硬さに対応する物質の特性値を得るところの物質の特性測定方法。
IPC (3)：
A61B 8/08 ,  G01N 3/40 ,  G01N 29/12
FI (3)：
A61B 8/08 ,  G01N 3/40 C ,  G01N 29/12
F-Term (13)：
2G047AC13 ,  2G047BC04 ,  2G047BC13 ,  2G047BC20 ,  2G047GF06 ,  2G047GG12 ,  2G047GG29 ,  4C301AA02 ,  4C301AA03 ,  4C301DD11 ,  4C301HH54 ,  4C301JB34 ,  4C301JB38
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (5)
  • 特開平3-286751
  • 超音波診断装置
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平4-147957   Applicant：石原謙, 株式会社日立メディコ
  • 体内触診装置
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平7-241870   Applicant：オリンパス光学工業株式会社
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Article cited by the Patent：
Cited by applicant (1)

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