異常陰影判定方法、異常陰影判定装置およびそのプログラム

Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (2)：柳田征史 , 佐久間剛
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2004009398
Publication number (International publication number)：2005198890
Application date： Jan. 16, 2004
Publication date： Jul. 28, 2005
Summary：

【課題】 FPの検出を削減して異常陰影の検出性能を向上させる。【解決手段】医用画像を強調処理した強調処理画像110に、異なる閾値を用いて2値化処理を施し、複数の2値化画像130を生成する。各2値化画像130に現れる領域の形状、大きさおよび領域内の画素値の統計量に基づいて異常陰影候補を検出し、同位置で異常陰影候補が検出された回数、前記複数の2値化画像130上において同位置で異常陰影候補が検出された際に閾値が最大になる最大2値化閾値、および前記複数の2値化画像130上において同位置で異常陰影候補が検出された際に閾値が最小になる最小2値化閾値のうち少なくとも1以上に基づいて、偽陽性であるか否かを判定する。【選択図】図9

Claim (excerpt)：

医用画像に対して画素値の勾配ベクトルが集中する領域を強調処理した強調処理画像を作成する強調処理ステップと、前記強調処理画像の画素の画素値が所定の閾値以上の画素の画素値を第1画素値とし、所定の閾値以下の画素の画素値を第2画素値とする2値化処理を、異なる閾値を用いて前記強調処理画像に施し、前記異なる閾値に対応した複数の2値化画像を生成する2値化画像生成ステップと、前記各2値化画像において前記第1の画素値の画素が連なる領域から、該領域の形状、該領域の大きさ、および該領域内の画素値の統計量のうち少なくとも1以上に基づいて、異常陰影候補となる領域を検出する異常陰影候補検出ステップと、前記複数の2値化画像上において同位置で異常陰影候補が検出された回数、前記複数の2値化画像上において同位置で異常陰影候補が検出された際に閾値が最大になる最大2値化閾値、および前記複数の2値化画像上において同位置で異常陰影候補が検出された際に閾値が最小になる最小2値化閾値のうち少なくとも1以上に基づいて、該異常陰影候補が偽陽性であるか否かを判定する判定ステップとを備えたことを特徴とする異常陰影判定方法。

IPC (2)：

A61B6/00 , G06T1/00

FI (2)：

A61B6/00 350D , G06T1/00 290A

F-Term (39)：

4C093AA26 , 4C093CA35 , 4C093DA03 , 4C093FD03 , 4C093FD05 , 4C093FD09 , 4C093FD11 , 4C093FD13 , 4C093FF06 , 4C093FF07 , 4C093FF16 , 4C093FF17 , 4C093FF20 , 4C093FF22 , 4C093FF23 , 4C093FF34 , 4C093FG13 , 4C093FG18 , 5B057AA08 , 5B057BA03 , 5B057BA29 , 5B057CA02 , 5B057CA08 , 5B057CA12 , 5B057CA16 , 5B057CB02 , 5B057CB06 , 5B057CB12 , 5B057CB16 , 5B057CC01 , 5B057CE12 , 5B057DA08 , 5B057DB02 , 5B057DB05 , 5B057DB09 , 5B057DC03 , 5B057DC04 , 5B057DC09 , 5B057DC22

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (1)

コンピュータ支援診断方法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平8-264162 Applicant：アーチ・デベロップメント・コーポレーション

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