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J-GLOBAL ID：200903087178951126

メッキ液中のデキストリン分析法及び液体クロマトグラフ

Inventor： 岩渕 等 ,  横倉 武文 ,  甲田 公良
Applicant, Patent owner： 株式会社日立製作所 ,  日立計測エンジニアリング株式会社
Agent (1)： 小川 勝男
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1998108973
Publication number (International publication number)：1999304788
Application date： Apr. 20, 1998
Publication date： Nov. 05, 1999
Summary：

【要約】【課題】本発明の目的は、メッキ液中に含まれる重金属を除去する前処理法。および、メッキ液に含まれるデキストリンのみを選択的に検出し、それらの分子量分布を精度良く測定する方法を提供することにある。【解決手段】重金属を炭酸ナトリウムにて沈殿除去し、デキストリンを液体クロマトグラフのポストラベル反応法を用いることにより選択的、且つ、高感度に測定できる。

Claim (excerpt)：

メッキ液に含まれる光沢剤の一つであるデキストリンを液体クロマトグラフにて分析する際には、メッキ液中の重金属を0.1〜3M の炭酸ナトリウムを用いて凝固させ、遠心分離器を用いて沈殿させ除去させることを特徴としたメッキ液中のデキストリン分析法。

IPC (2)：

G01N 30/88 ,  G01N 30/14

FI (2)：

G01N 30/88 N ,  G01N 30/14 Z