Pat
J-GLOBAL ID:200903087181193755

線形中継器の雑音指数監視装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 古谷 史旺
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1992282890
Publication number (International publication number):1994132905
Application date: Oct. 21, 1992
Publication date: May. 13, 1994
Summary:
【要約】【目的】 光伝送システムで多段接続される線形中継器の雑音指数の測定に用いる雑音指数監視装置に関し、簡単な構成で線形中継器の雑音指数の測定を可能にすることを目的とする。【構成】 ASE光強度検出手段として、ASE光除去用狭帯域光フィルタの入力光の一部を分岐する分波器と、透過中心波長が信号光波長からずれて設定され、分波器で分岐された光から光増幅器で発生したASE光を切り出すASE光切り出し用狭帯域光フィルタと、ASE光切り出し用狭帯域光フィルタから出力されるASE光の強度を測定するASE光強度検出器とを備え、利得検出手段で測定された利得とASE光強度とを用いて線形中継器の雑音指数を算出する。
Claim (excerpt):
入力される信号光を増幅する少なくとも1つの光増幅器と、透過中心波長が信号光波長に一致し、光増幅器で発生したASE光を除去するASE光除去用狭帯域光フィルタとを有する線形中継器における利得を測定する利得検出手段と、光増幅器で発生したASE光強度を測定するASE光強度検出手段とを備え、測定された利得とASE光強度とを用いて前記線形中継器の雑音指数を算出する線形中継器の雑音指数監視装置において、前記ASE光強度検出手段は、前記ASE光除去用狭帯域光フィルタの入力光の一部を分岐する分波器と、透過中心波長が信号光波長からずれて設定され、前記分波器で分岐された光から前記光増幅器で発生したASE光を切り出すASE光切り出し用狭帯域光フィルタと、前記ASE光切り出し用狭帯域光フィルタから出力されるASE光の強度を測定するASE光強度検出器とを備えたことを特徴とする線形中継器の雑音指数監視装置。
IPC (4):
H04B 10/16 ,  G02F 1/35 501 ,  H04B 10/18 ,  H04B 17/02
FI (2):
H04B 9/00 J ,  H04B 9/00 M
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (1)
  • 特開平4-181210

Return to Previous Page