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J-GLOBAL ID：200903087181991015

基板検査装置における検査結果出力方法

Inventor： 田中 光一
Applicant, Patent owner： オムロン株式会社
Agent (1)： 鈴木 由充
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1991202365
Publication number (International publication number)：1993026814
Application date： Jul. 16, 1991
Publication date： Feb. 02, 1993
Summary：

【要約】【目的】はんだ付け不良などの基板上の不良部位を正確かつ迅速に確認することができる検査結果出力方法を提供する。【構成】表示部の表示画面7には、画像表示部cと不良部品情報表示部bとが設けられている。画像表示部cには、基板外形および部品外形の各画像が表示されると共に、基板領域を複数の区域に区分するための縦横格子状の区分線34,35がグラフィック表示される。不良部品情報表示部bには各不良部品につきその名称または番号40と、その部品が属する前記区域の番地41とが対で文字により表される。

Claim (excerpt)：

検査結果を表示または印字する面に、基板の外形を複数の区域に区分するための格子状の区分線を表すと共に、前記基板上の検査対象を特定する情報およびその検査対象が位置する区域を特定する情報をあわせて表すことを特徴とする基板検査装置における検査結果出力方法。

IPC (4)：

G01N 21/88 ,  G06F 15/62 405 ,  G09G 5/00 ,  H05K 3/34

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (3)

• 特開平3-044054
  
• 特開平2-076080
  
• 特開昭58-135941