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J-GLOBAL ID:200903087183873583

閉じ込められたイオンビームの中の選択されたイオンの強度を減少させる方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 社本 一夫 (外5名)
Gazette classification:公表公報
Application number (International application number):1997525274
Publication number (International publication number):1999509036
Application date: Jan. 03, 1997
Publication date: Aug. 03, 1999
Summary:
【要約】キャリアガス・イオンに比較して割合が高くなった分析物イオンを含むイオンビームを生成する方法が開示される。すなわち、本方法は、電荷移動ガスをキャリアイオン/分析物イオンの複合物に添加する工程を備える。上記電荷移動ガスは、キャリアガス・イオンからの電荷を受容するが、分析物イオンからの電荷は殆ど受容せず、これにより、キャリアガス・イオンを選択的に中和する。また、誘導結合高周波プラズマ質量分析計を含む種々の分析機器に採用される方法も開示される。
Claim (excerpt):
2又はそれ以上のイオン種から成る混合物が与えられる装置にイオンビームを与える改善された方法であって、選択したイオン種から試薬ガスに電荷を移動させることにより帯電した試薬ガスを形成することを特徴とする方法。
IPC (2):
H01J 49/10 ,  H01J 27/02
FI (2):
H01J 49/10 ,  H01J 27/02
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (3)
  • 特開平2-158047
  • 特開平1-311554
  • 特開平4-137445

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