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J-GLOBAL ID：200903087186482640

温度測定治具及び該治具を用いた加熱炉及び該加熱炉における炉内温度制御方法

Inventor： 国武 一樹 ,  吉村 文雄
Applicant, Patent owner： 住友電気工業株式会社
Agent (2)： 宮越 典明 ,  内藤 照雄
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2004042477
Publication number (International publication number)：2005233741
Application date： Feb. 19, 2004
Publication date： Sep. 02, 2005
Summary：

【課題】 加熱処理する光ファイバ製造用前駆体を金属成分によって汚損させずに炉内温度を実測できる温度測定治具及び該治具を用いた加熱炉及び炉内温度制御方法を得る。【解決手段】 光ファイバ製造用前駆体を加熱処理する加熱炉11の炉心管13内に挿抜可能に温度測定治具43,45を備えると共に、温度測定治具43,45は、熱電対53の周囲をカーボン保護管57で覆った構成とし、炉心管13を周回するヒータ15a,15b,15cの動作制御を行う制御手段27は、前記温度測定治具43.45が検出した炉心管13内の温度に基づいて、ヒータ15a,15b,15cの動作制御を補正する。【選択図】 図1

Claim (excerpt)：

熱電対と、該熱電対を先端を部分的に露出させた状態で覆う短絡防止保護管と、前記熱電対の先端の露出部分を覆うカーボン保護管とを具備したことを特徴とする温度測定治具。

IPC (8)：

G01K7/02 ,  C03B37/014 ,  F27B17/00 ,  F27D19/00 ,  F27D21/00 ,  G01K1/08 ,  G01K1/14 ,  G02B6/00

FI (8)：

G01K7/02 C ,  C03B37/014 Z ,  F27B17/00 D ,  F27D19/00 A ,  F27D21/00 G ,  G01K1/08 P ,  G01K1/14 J ,  G02B6/00 356A

F-Term (9)：

2F056BP05 ,  2F056BP07 ,  4G021CA12 ,  4K056BA01 ,  4K056BB06 ,  4K056CA10 ,  4K056CA18 ,  4K056FA04 ,  4K056FA13

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (1)

• 加熱炉の温度測定方法及び光ファイバ製造用前駆体加熱方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平10-327360   Applicant：住友電気工業株式会社