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J-GLOBAL ID：200903087189157499
距離測定装置
Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
木内 修
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993342955
Publication number (International publication number)：1995167944
Application date： Dec. 15, 1993
Publication date： Jul. 04, 1995
Summary：
【要約】【目的】 光源の発光量や受光素子の受光感度、アンプのゲインの変化による影響を受けずに正確な汚れ判断を行う。【構成】 汚れ判断信号として受光信号レベルS10を受光信号レベルS9 で除算した値を使用するようにしたので、周辺環境の温度変化などによりレーザダイオード4の発光量や受光素子8の受光感度、アンプ増幅度の変化が生じたとしても、その影響を受けることはほとんどなく、正確な汚れ判断を行うことができる。
Claim (excerpt)：
測定対象物に光を出射する発光手段と、前記測定対象物からの反射光を受光する第1の受光手段と、前記発光手段の光が出射されてから前記第1の受光手段で受光されるまでの時間を測定する時間測定手段と、前記時間測定手段によって測定された前記時間から前記測定対象物までの距離を演算する距離検出手段と、前記発光手段及び前記第1の受光手段と前記測定対象物との間に配置された光透過板とを備えた距離測定装置において、前記光透過板の表面からの反射光及び前記光透過板に付着した付着物からの散乱光を受光する第2の受光手段と、前記光透過板に付着した付着物からの散乱光だけを受光する第3の受光手段と、前記第2の受光手段の受光信号レベル及び前記第3の受光手段の受光信号レベルをそれぞれ検出する受光信号レベル検出手段と、前記受光信号レベル検出手段の両検出信号レベルに基づき前記付着物の付着状態を判定する付着状態判定手段とを備えていることを特徴とする距離測定装置。
IPC (2)：
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