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J-GLOBAL ID：200903087203562911

分子配向測定装置および分子配向測定法

Inventor： 永田紳一 ,  木村 晃 ,  粟飯原 広征
Applicant, Patent owner： 新王子製紙株式会社
Agent (1)： 村田 紀子
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1995098017
Publication number (International publication number)：1996271449
Application date： Mar. 29, 1995
Publication date： Oct. 18, 1996
Summary：

【要約】【目的】ライン上を搬送される紙や高分子の連続シート等の分子配向をオンラインで測定するのに適した分子配向測定装置および分子配向測定法を提供する。【構成】マイクロ波発振器1に減衰器4を介して少なくとも3本の導波管3が接続される。導波管にはスリット5が形成される。試料6がスリットを通過しつつ一定方向に搬送される。導波管は内部を伝播するマイクロ波の電界ベクトルが互いに異なる角度に向けられるように配置される。各一対の導波管部分3a、3bは軸方向に相対移動し得る。各導波管部分は内部に絞りを有する。マイクロ波強度検知部8からの検出出力が、増幅器11、A/D変換器14を経て演算部15に入力される。演算部は、検出データに基づいて、分子配向パターンを算出し、配向角度、配向度を出力する。増幅器はポテンショメータ13を備えている。

Claim (excerpt)：

マイクロ波発振手段と、一端が前記マイクロ波発振手段に接続された少なくとも3本の方形導波管と、前記少なくとも3本の導波管の他端にそれぞれ接続されたマイクロ波検出手段と、前記マイクロ波検出手段からの検出データに基づいて分子配向パターンを算出し、配向角度および配向度を出力する演算手段を備え、前記導波管はそれぞれの軸が互いに平行になるように配置され、前記導波管のそれぞれの中間には前記各導波管をその軸に垂直な方向に横断する平面に沿ってスリットが形成され、前記スリット内には前記横断平面に沿って試料が挿入され、前記各導波管は内部を伝播するマイクロ波の電界ベクトルが前記横断平面内において互いに異なる角度に向けられるように配置されており、さらに、前記スリットを挟んで対向する各一対の導波管部分のそれぞれの内部に配置された絞り手段と、前記マイクロ波発振手段と前記各導波管との間に配置され、マイクロ波の出力を調整する減衰器を備え、さらに、前記マイクロ波検出手段は、マイクロ波強度検知器と、前記マイクロ波強度検知器に接続された検波器と、前記検波器に接続された増幅器と、前記増幅器からの出力信号をディジタル信号に変換して前記演算手段に出力するアナログ/ディジタル変換器と、前記マイクロ波強度検知器の感度または前記増幅器のゲインを調節するための手段を有していることを特徴とする分子配向測定装置。