Pat
J-GLOBAL ID：200903087263767466
磁気抵抗ヘッドの検査方法及び装置
Inventor：
,
,
Applicant, Patent owner：
,
Agent (1)：
小川 勝男
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1996279148
Publication number (International publication number)：1998124828
Application date： Oct. 22, 1996
Publication date： May. 15, 1998
Summary：
【要約】【課題】微少な、例えば数%の微少出力変動レベルのバルクハウゼンノイズの検出は可能であったが、例えば30〜50%の大出力変動のバルクハウゼンノイズの検出が再現性よく検出できないという問題があった。【解決手段】センス電流によってバイアス磁界を発生させる磁気抵抗ヘッド(以下MRヘッドと称する)であって、ストレスとしての外部磁場を該MRヘッドとは別の外部磁場発生手段により、スライダ-浮上面側からMRストライプの磁化困難軸方向(以下この方向をP方向とする)へ、パルス磁場として印加し、その後該MRヘッドの出力電圧波形を検査することにより達成することができる。
Claim (excerpt)：
センス電流によってバイアス磁界を発生させる磁気抵抗ヘッド(以下MRヘッドと称する)において、ストレスとしての外部磁場を該MRヘッドとは別の外部磁場発生手段により、スライダ-浮上面側からMRストライプの磁化困難軸方向(以下この方向をP方向とする)へ、パルス磁場として印加し、その後該MRヘッドの出力電圧波形を検査することを特徴とするMRヘッドの検査方法。
IPC (2)：
FI (2)：
Patent cited by the Patent：
Return to Previous Page
