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J-GLOBAL ID：200903087272803530
顕微鏡システム
Inventor：
,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
鈴江 武彦 (外4名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2002067376
Publication number (International publication number)：2002341248
Application date： Mar. 12, 2002
Publication date： Nov. 27, 2002
Summary：
【要約】【課題】 観察対象物と対物レンズとの接触を高い精度で検出して両者が過接触することを防止することができる過接触防止機能を有する顕微鏡システムを提供することにある。【解決手段】 標本4を載置したステージ2と対物レンズ6の少なくとも一方を光軸方向に相対的に移動可能にした顕微鏡システムであって、標本4と対物レンズ6の接触を検知する接触検知センサ11の検出出力と予め設定されるしきい値との比較結果から標本4と対物レンズ6の接触の可能性を接触判定部12で判定し、この判定結果により標本4と対物レンズ6の過接触を回避させるとともに、所定時間ごとに接触検知センサ11の出力に基づいて接触判定部12でのしきい値を更新する。
Claim (excerpt)：
観察対象物を載置する為のステージに対してこの観察対象物を観察する為の対物レンズを光軸方向に相対的に移動可能な顕微鏡システムにおいて、前記観察対象物と前記対物レンズとの間の非接触及び接触に対応する接触状態を検出し、接触状態に応じて信号を出力する検出手段と、前記検出手段の出力に基づいて、前記観察対象物と前記対物レンズとの接触状態が所定値を超えたことを判定して過接触信号を出力する判定手段であって、この判定手段は、接触判定の判定基準となるしきい値を設定するしきい値設定手段及び設定されたしきい値と前記検出手段の出力を比較する比較器を備え、前記しきい値設定手段は前記観察対象物と前記対物レンズとが分離されている状態において、前記検出手段の出力に基づいてしきい値を再設定する判定手段と、及び前記過接触信号に応答して前記ステージと前記対物レンズの相対的移動を制御する制御手段と、を具備することを特徴とする顕微鏡システム。
IPC (2)：
FI (2)：
F-Term (4)：
2H052AD06
, 2H052AD18
, 2H052AD33
, 2H052AF01
