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J-GLOBAL ID：200903087278133161

蛍光を用いたポリマー材料の劣化診断方法

Inventor： 三井 勉 ,  花井 節 ,  梅田 裕明
Applicant, Patent owner： 社団法人電線総合技術センター
Agent (1)： 須山 佐一
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1994055651
Publication number (International publication number)：1995260688
Application date： Mar. 25, 1994
Publication date： Oct. 13, 1995
Summary：

【要約】【目的】 ポリマー材料が被覆された電線・ケーブルの経年劣化を容易にかつ精度よく診断することができる非破壊的劣化診断方法を提供する。【構成】 被試験体としてのポリマー材料のラマンー蛍光スペクトルを測定し、これらの蛍光スペクトルのピーク強度と、予め求めておいたその材料の劣化前の試料の蛍光スペクトルの同一波長における蛍光ピーク強度を比較することにより測定試料の劣化度を診断する。

Claim (excerpt)：

ポリマーからなる材料をレーザーラマン分光装置を用いてラマンー蛍光スペクトルを測定し、入射する励起光によりラマン成分と同時に発生する蛍光成分からなるスペクトルを測定し、予め求めておいた標準試料の同一波数の蛍光ピーク強度と測定試料の蛍光ピーク強度を比較することにより前記ポリマー材料の劣化度を診断することを特徴とするポリマー材料の劣化診断方法。

IPC (2)：

G01N 21/64 ,  G01N 21/65

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (2)

• 特開昭57-118143
  
• 特開昭54-009990