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J-GLOBAL ID：200903087340041805

X線回折を用いた結晶の観察方法及びその観察装置

Inventor： 鯉沼 秀臣 ,  川崎 雅司 ,  福村 知昭 ,  大谷 亮 ,  表 和彦 ,  菊池 哲夫
Applicant, Patent owner： 科学技術振興事業団 ,  理学電機株式会社
Agent (1)： 清水 守
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2001089382
Publication number (International publication number)：2002286660
Application date： Mar. 27, 2001
Publication date： Oct. 03, 2002
Summary：

【要約】【課題】 直線状に数度の入射角をもつX線と二次元X線検出器を採用することによって、X線回折の原理により結晶を高速に観察することができるX線回折を用いた結晶の観察方法及びその観察装置を提供する。【解決手段】 X線を観察したい結晶に照射し、その回折X線をX線検出器で検出するX線回折を用いた結晶の観察方法において、湾曲モノクロメータ3を用いて回折X線の入射角に有限の角度を持たせて、その回折X線を前記結晶6上に直線状に集光し、二次元X線検出器7を用いることによって、有限の回折角度にわたって前記結晶6の直線状の回折X線を同時に測定することにより、X線回折強度を空間的にマッピングし、前記結晶6を評価する。

Claim (excerpt)：

X線を観察したい結晶に照射し、その回折X線をX線検出器で検出するX線回折を用いた結晶の観察方法において、湾曲モノクロメータを用いて回折X線の入射角に有限の角度を持たせて、該回折X線を前記結晶上に直線状に集光し、二次元X線検出器を用いることによって、前記有限の回折角度にわたって前記結晶の直線状の回折X線を同時に測定することにより、X線回折強度、回折角度及び半値幅を空間的にマッピングし、前記結晶を評価することを特徴とするX線回折を用いた結晶の観察方法。

F-Term (20)：

2G001AA01 ,  2G001BA18 ,  2G001CA01 ,  2G001DA09 ,  2G001EA01 ,  2G001GA01 ,  2G001GA06 ,  2G001GA08 ,  2G001GA13 ,  2G001HA01 ,  2G001JA04 ,  2G001JA08 ,  2G001KA08 ,  2G001MA05 ,  2G001PA11 ,  2G001PA12 ,  2G001RA08 ,  2G001SA01 ,  2G001SA04 ,  2G001SA07

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (1)

• コンビナトリアルX線回折装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平11-149213   Applicant：科学技術振興事業団, 理学電機株式会社