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J-GLOBAL ID：200903087370997806

近赤外線分光分析による殺菌用過酸化水素蒸気濃度の測定及び殺菌方法

Inventor： ライアン ヴァン デン バーグ ,  マーク エス.セッタ ,  キース エル ミラ ,  テリ アー.トッド
Applicant, Patent owner： ユーオーピー
Agent (1)： 佐田 守雄
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1996129878
Publication number (International publication number)：1996334460
Application date： May. 24, 1996
Publication date： Dec. 17, 1996
Summary：

【要約】【課題】 水蒸気の存在下でも、過酸化水素蒸気濃度を正確に分析する方法及びこれによって過酸化水素蒸気による殺菌を効果的に実施する方法を提供する。【解決手段】 1420nm近傍での過酸化水素の近赤外線吸光度に、過酸化水素の吸収のない他の波長領域において測定した水及び他の有機物蒸気の吸光度を所定の方法で補正して過酸化水素濃度を算出する。また、上記の測定方法を用い過酸化水素蒸気濃度を制御する殺菌方法。

Claim (excerpt)：

過酸化水素蒸気及び水蒸気の両方を含むサンプルにおいて、水蒸気の存在下、下記ステップを含むことを特徴とする過酸化水素蒸気濃度の測定方法。a)約1420nmの第1の領域における1つの波長での第1の吸光度並びに915〜950,1350〜1400及び1830〜2000nmの領域の少なくとも1つの第2の領域から選択された少なくとも1つの波長での少なくとも1つの第2の吸光度を測定するステップ;b)上記第1の吸光度から、第2の領域において測定された上記第2の吸光度から計算された水蒸気による吸光度を差し引いて、水蒸気に関し補正した約1420nmにおける第3の吸光度を得るステップ;そしてc)ビアーズの法則を用いて、上記第3の吸光度から過酸化水素の濃度を測定するステップ。

IPC (2)：

G01N 21/35 ,  G01N 31/00

FI (2)：

G01N 21/35 Z ,  G01N 31/00 M

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (3)

• 特表平2-502943
  
• 特開昭54-063785
  
• 特開平4-343850