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J-GLOBAL ID：200903087435240481

レーザ走査顕微鏡

Inventor： 山垣 浩司
Applicant, Patent owner： 株式会社ニコン
Agent (1)： 木内 修
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1997212597
Publication number (International publication number)：1999038324
Application date： Jul. 23, 1997
Publication date： Feb. 12, 1999
Summary：

【要約】【課題】 試料の厚さを予め計算しなくとも過不足のない切片像を連続的に取得できるレーザ走査顕微鏡を提供する。【解決手段】 励起レーザ光を反射させるとともに蛍光を透過させるダイクロイックミラー3と、励起レーザ光を試料13上で2次元走査する2次元スキャンユニット4と、2次元スキャンユニット4と試料13との間に配置された対物レンズ7と、試料13と対物レンズ7との光軸方向における相対位置を移動可能なZ軸コントローラ8と、蛍光を観察するモニタ22とを備えたレーザ走査顕微鏡において、Z軸コントローラ8を駆動させて相対位置を光軸方向へ所定距離ずつ移動させ、その移動の度に取得される切片像同士の画像情報を比較し、この画像情報の比較結果に基づいて切片像の取得を終了させる。

Claim (excerpt)：

励起レーザ光を反射するとともに蛍光を透過する光分離手段と、前記励起レーザ光を試料上で2次元走査する走査手段と、前記走査手段と前記試料との間に配置された対物レンズと、前記試料と前記対物レンズとの光軸方向における相対位置を移動可能な駆動手段と、前記光分離手段を透過した蛍光を受光して、試料の切片像を取得する観察手段とを備えたレーザ走査顕微鏡において、前記駆動手段を駆動して前記相対位置を光軸方向へ所定距離ずつ移動させ、その移動の度に、移動前後に取得される切片像同士の画像情報を比較し、この画像情報の比較結果に基づいて前記切片像の取得を終了させる制御手段を備えていることを特徴とするレーザ走査顕微鏡。