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J-GLOBAL ID：200903087462268355

水質管理装置

Inventor： 佐野 法 ,  大島 英郎 ,  田中 佐久雄 ,  三元 健
Applicant, Patent owner： 横河電機株式会社
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1998217042
Publication number (International publication number)：2000046721
Application date： Jul. 31, 1998
Publication date： Feb. 18, 2000
Summary：

【要約】【課題】 濁度が設定レベルを超えたときに、クリプト菌の混入を推測するとともにより細かなろ過池の管理が可能な水質管理装置を提供する。【解決手段】 浄水場におけるろ過池の水質管理装置において、ろ過池の出口の濁度を管理する手段として透過散乱光方式の濁度計を用いると共に水中の粒度分布を測定する粒子カウンタを用いた。また、ろ過池の入口にも粒子カウンタを設けた。

Claim (excerpt)：

浄水場におけるろ過池の水質管理装置において、ろ過池の出口の濁度を管理する手段として透過散乱光方式の濁度計を用いると共に水中の粒度分布を測定する粒子カウンタを用いたことを特徴とする水質管理装置。

IPC (4)：

G01N 15/02 ,  G01N 15/06 ,  G01N 21/49 ,  G01N 33/18

FI (6)：

G01N 15/02 Z ,  G01N 15/06 E ,  G01N 15/06 C ,  G01N 21/49 A ,  G01N 33/18 A ,  G01N 33/18 Z

F-Term (7)：

2G059AA02 ,  2G059BB05 ,  2G059EE01 ,  2G059EE02 ,  2G059FF01 ,  2G059MM06 ,  2G059MM15

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (4)

• 特開昭55-086507
  
• 浄水処理方法及びその装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平3-357627   Applicant：日立プラント建設株式会社
• 液体中の微粒子の粒径、個数濃度または濁度の測定方法およびその測定装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平8-080392   Applicant：富士電機株式会社
• 特開昭57-189041