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J-GLOBAL ID：200903087532652549

テストパターン生成方法

Inventor： 吉村 慎一 ,  竹岡 貞巳
Applicant, Patent owner： 松下電器産業株式会社
Agent (2)： 板垣 孝夫 ,  森本 義弘
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2003379223
Publication number (International publication number)：2005140710
Application date： Nov. 10, 2003
Publication date： Jun. 02, 2005
Summary：

【課題】検査対象経路の始点に近いゲートがノンロバスト条件で活性化された場合でも、検査対象経路の始点から検査対象の配線またはゲートまでを、より長い経路に渡って信号伝送における遅延故障および遷移故障について、確実に検査することができるテストパターン生成方法を提供する。【解決手段】被検査半導体集積回路の検査対象経路を選択し、検査対象経路に遷移値を設定し(ステップ101)、検査対象経路の始点に初期値を設定し(ステップ102)、検査対象外入力に非制御値を設定し、伝搬テストパターンを求め(ステップ104)、検査対象経路の始点側から順次ゲートを選択し(ステップ106)、選択したゲートが検査対象経路の終点でない場合は検査対象外入力にロバスト条件を満たす値を設定し、含意操作を行い(ステップ110)、初期化テストパターンを求める(ステップ115)。【選択図】図1

Claim (excerpt)：

複数のゲート間が配線で接続された半導体集積回路における信号伝送に際して発生する故障を検査するためのテストパターン系列を生成するテストパターン生成方法であって、前記半導体集積回路に対してゲート間が1つの配線で直列接続された任意の検査対象経路を選択する経路選択ステップと、前記経路選択ステップで選択された検査対象経路の始点から前記検査対象経路上のゲートに順次信号伝搬条件としてロバスト条件の活性化信号を与えるステップと、前記ロバスト条件の活性化信号が与えられない前記検査対象経路上のゲートから前記検査対象経路の終点までのゲートに、信号伝搬条件をロバスト条件に限定せず信号遷移が伝搬する条件を与えるステップとを有することを特徴とするテストパターン生成方法。

IPC (2)：

G01R31/3183 ,  H03K19/00

FI (2)：

G01R31/28 Q ,  H03K19/00 B

F-Term (13)：

2G132AA00 ,  2G132AD07 ,  2G132AD15 ,  2G132AG01 ,  2G132AL12 ,  5J056AA03 ,  5J056BB60 ,  5J056CC00 ,  5J056CC05 ,  5J056EE12 ,  5J056EE14 ,  5J056GG14 ,  5J056KK00