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J-GLOBAL ID:200903087575676107
超音波画像診断装置
Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
伊藤 進
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1997058113
Publication number (International publication number):1998248844
Application date: Mar. 12, 1997
Publication date: Sep. 22, 1998
Summary:
【要約】【課題】本発明は、超音波断層像の視野を狭めることなく、画像ずれが生じても画像が回転してしまうことなく画像データを得ることで、三次元画像の歪みを除去し正確な画像を表示できる超音波画像診断装置を提供する。【解決手段】連続した複数の超音波断層像からなる三次元画像データを得る超音波プローブ1を有する超音波画像診断装置において、複数の超音波断層像のうち、第1の超音波断層像に回転処理を施す回転手段(極座標変換部27)と、この回転手段により回転処理が施された第1の超音波断層像と複数の超音波断層像のうちの第2の超音波断層像との相関演算を行って、相関値を出力する相関演算手段(相関演算部28)とを設け、回転手段は相関演算手段によって演算された相関値の最も高い角度で第1の超音波断層像に対して再び回転処理を施す。
Claim (excerpt):
連続した複数の超音波断層像からなる三次元画像データを得る超音波プローブを有する超音波画像診断装置において、上記複数の超音波断層像のうち、第1の超音波断層像に回転処理を施す回転手段と、この回転手段により回転処理が施された上記第1の超音波断層像と上記複数の超音波断層像のうちの第2の超音波断層像との相関演算を行って、相関値を出力する相関演算手段と、を設け、上記回転手段は、上記相関演算手段によって演算された相関値の最も高い角度で上記第1の超音波断層像に対して再び回転処理を施すことを特徴とする超音波画像診断装置。
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (4)
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超音波画像処理装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平7-142018
Applicant:アロカ株式会社
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超音波診断装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平7-241958
Applicant:オリンパス光学工業株式会社
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超音波診断装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平6-313102
Applicant:株式会社東芝
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超音波診断装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平7-019378
Applicant:富士通株式会社
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