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J-GLOBAL ID：200903087596650841

微弱光検出方法および微弱光検出装置

Inventor： 中野 義太郎
Applicant, Patent owner： 株式会社分子バイオホトニクス研究所
Agent (1)： 長谷川 芳樹 (外3名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1995343853
Publication number (International publication number)：1997184807
Application date： Dec. 28, 1995
Publication date： Jul. 15, 1997
Summary：

【要約】【課題】 非接触で、精度良く試料内の状態を測定する微弱光検出方法を提供する。【解決手段】 試料900内への光分解性物質の導入後、第1の光源100から出力された分解光を、第1のピンホール511、ビームスキャナ400を介した後、対物レンズ200で視野内で略回折限界にまでその担った第1のピンホールの像が試料900内の1点に絞り込んで試料900に照射する。分解光が絞り込まれた試料900内の1点に光分解性物質が存在すると、光分解性に充分な分解光が照射され、光分解がなされて分解産物が発現する。この分解産物の発現に伴う試料900の発生光の強度を検出し、走査位置の情報とともに格納する。こうして、試料900内の各位置で発現した分解産物に伴う蛍光の強度を検出することにより、試料内の状態を測定する。

Claim (excerpt)：

光分解性物質を試料内に導入する第1のステップと、第1の光源から出力された第1の波長の分解光で第1のピンホールを有する第1の光制限部材を照射する第2のステップと、前記第1のピンホールを通過した分解光について前記第1のピンホールの像を視野内で略回折限界に絞り込み、絞り込まれた前記第1のピンホールの像を前記試料内で走査するとともに、第2の光源から出力された第2の波長の励起光で試料を照射する第3のステップと、前記光分解性物質に前記分解光が照射され、分解産物の発現に伴う前記試料内の状態の変化に応じた、前記励起光の照射によって生じる第3の波長の蛍光の強度を走査位置ごとに検出する第4のステップと、を備えることを特徴とする微弱光検出方法。