Pat
J-GLOBAL ID：200903087598213732

印刷はんだ検査装置

Inventor：
上萬 直哉

About 上萬 直哉

, 
木村 剛

About 木村 剛

, 
高田 治

About 高田 治


Applicant, Patent owner：
アンリツ株式会社

About アンリツ株式会社


Agent (2)： 特許業務法人三澤特許事務所 ,  三澤 正義
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2008071889
Publication number (International publication number)：2009229119
Application date： Mar. 19, 2008
Publication date： Oct. 08, 2009
Summary：
【課題】複数はんだ箇所をグループ化し、そのグループにおける形状値を軸に許容値と工程指数との関係を可逆的に認識可能にし、許容値の変更があったときは次の1枚目の検査から反映することができる印刷はんだ検査装置を提供することである。【解決手段】データ蓄積手段6に測定手段2で測定されたプリント基板の1枚毎に、形状データ生成手段3で生成されたハンダ量を表す複数種類の形状データをはんだ箇所に対応づけて蓄積し保存する。統計処理手段7が、プリント基板の1枚を測定する度に、操作手段により指定されたはんだ箇所のグループの、かつ種類の前記保存された形状データについて、少なくとも、標準偏差σを求めるとともに標準偏差値σと該当する前記許容データとから工程能力指数を求める演算を行う。表示制御手段8は、前記1枚毎に、更新された工程能力指数を表示手段9に表示させる構成とした。【選択図】図1
Claim (excerpt)：
はんだが印刷されたプリント基板のはんだ箇所のレイアウトを基にスキャンしながら前記はんだ箇所の高さ方向の変位を測定する測定手段(2)と、測定して得られた変位を基に前記各はんだ箇所のはんだ量を表す複数種類の形状データを生成する形状データ生成手段(3)と、予め前記複数種類毎に、かつはんだ箇所毎に許容値を設定する許容値設定手段(11b)と、前記生成された形状データと予め記憶された前記許容値とを前記各種類毎に比較することにより前記各はんだ箇所の良否判定を行う判定手段(4)と、操作手段(10)と、表示手段(9)と、前記良否判定の結果を前記表示手段に表示させる表示制御手段(8)と、を備えた印刷はんだ検査装置であって、 測定された前記プリント基板の1枚毎に、複数種類の前記形状データをはんだ箇所に対応づけて蓄積し、かつ指示があるまで保存するデータ蓄積手段(6)と、 前記プリント基板の1枚を測定する度に、前記操作手段により指定された前記はんだ箇所のグループで、かつ前記はんだ量を表す種類に該当する前記保存された形状データについて、少なくとも、標準偏差σを求めるとともに該標準偏差値σと該当する前記許容値とから工程能力指数を求める演算を行う統計処理手段(7)とを備え、 前記表示制御手段は、前記1枚毎に、更新された工程能力指数を前記表示手段に表示させることを特徴とする印刷はんだ検査装置。
IPC (4)：
G01B 11/02 ,  G01B 11/28 ,  G01B 11/30 ,  G01N 21/956
FI (4)：
G01B11/02 Z ,  G01B11/28 Z ,  G01B11/30 A ,  G01N21/956 B
F-Term (25)：
2F065AA20 ,  2F065AA22 ,  2F065AA24 ,  2F065AA49 ,  2F065AA58 ,  2F065AA59 ,  2F065BB05 ,  2F065CC26 ,  2F065FF09 ,  2F065MM06 ,  2F065PP22 ,  2F065QQ23 ,  2F065QQ41 ,  2F065QQ42 ,  2F065QQ43 ,  2F065RR05 ,  2F065RR08 ,  2F065SS01 ,  2F065SS09 ,  2F065SS13 ,  2G051AA65 ,  2G051AB14 ,  2G051BA10 ,  2G051CB01 ,  2G051EB09
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (1)
  • 印刷はんだ検査装置
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願2005-167287   Applicant：アンリツ株式会社
Cited by examiner (4)
Show all

Return to Previous Page

TOP

BOTTOM