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J-GLOBAL ID：200903087632282960

蛍光顕微鏡

Inventor： 中村 竜
Applicant, Patent owner： 株式会社ニコン
Agent (1)： 井上 義雄
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1998078555
Publication number (International publication number)：1999258512
Application date： Mar. 12, 1998
Publication date： Sep. 24, 1999
Summary：

【要約】【目的】 励起光の正確な計測が可能な蛍光顕微鏡を提供すること。【解決手段】 レーザ光源11からの励起光ELは、制御装置30によって所望の強度に調節されてピント面18上に投影される。ピント面18上に投影された励起光ELは、走査光学系14によってサンプルSP上で走査される。試料本体17から発生した蛍光は、対物レンズ15を逆行し、検出器23にて検出される。制御装置30は、検出器23の検出信号と走査光学系14の制御信号とに基づいて、試料本体17のピント面18における蛍光画像を作成する。励起光ELのうち顕微鏡ステージ20上の観察位置を透過した通過光PLは、コンデンサレンズ24によって集光され、検出器26によって検出される。検出器26の検出出力は、制御装置30に入力されて、顕微鏡ステージ20上の観察位置に照射される励起光ELの強度を調節するためモニタ信号として利用されたり、サンプルSPの透過画像の作成に利用される。

Claim (excerpt)：

励起光を発生する光源と、前記光源からの前記励起光を対物レンズを介して観察位置に配置した試料に照射する照明光学系と、前記励起光の照射により前記試料から発する蛍光を取得して試料像を得る観察系と、前記試料を前記観察位置から退避させた状態で当該観察位置を通過した励起光の強度を検出する強度検出装置と、を備えることを特徴とする蛍光顕微鏡。