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J-GLOBAL ID:200903087701524008

機械設備の監視システム

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (5): 小栗 昌平 ,  本多 弘徳 ,  市川 利光 ,  高松 猛 ,  濱田 百合子
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2003304700
Publication number (International publication number):2004184400
Application date: Aug. 28, 2003
Publication date: Jul. 02, 2004
Summary:
【課題】 摺動部材の構成部品の摩耗や破損に起因した異常の有無を、その摺動部材を分解をせずに通常の使用状態のままで判定可能で、しかも、装置がコンパクトで、機械設備への装備が容易にできる異常診断システムを提供すること。【解決手段】 摺動部材3の構成部材に組み付けられて摺動部材3の摺動動作時の物理量を検出するセンサユニット5と、このセンサユニット5の出力を所定の演算処理によって分析し、分析結果を予め用意しておいた基準データと比較して摺動部材における異常の有無を判定する情報処理装置としてのマイクロコンピュータ7とを備えたことで、コンパクトな構成で、且つ、目視検査の場合と比較して、安定した判定を実現する。【選択図】 図1
Claim (excerpt):
機械設備の摺動部材又は回転体の異常の有無を検出する機械設備の監視システムであって、 前記機械設備から発せられる信号を検出する1又は複数個の検出器と、 前記検出器の出力を基に前記機械設備の異常の有無を判定する演算処理を行う演算処理器と、を備え、 前記演算処理器は、マイクロコンピュータから構成されることを特徴とする機械設備の監視システム。
IPC (1):
G01M19/00
FI (1):
G01M19/00 A
F-Term (7):
2G024AD01 ,  2G024BA27 ,  2G024CA11 ,  2G024CA13 ,  2G024CA17 ,  2G024EA11 ,  2G024FA01
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (12)
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Cited by examiner (18)
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