Pat
J-GLOBAL ID:200903087703545150

障害位置検出システム

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 絹谷 信雄
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1996149405
Publication number (International publication number):1997329415
Application date: Jun. 11, 1996
Publication date: Dec. 22, 1997
Summary:
【要約】【課題】 障害位置検出分解能が容易に高められ、複数箇所の障害が高精度で検出できる障害位置検出システムを提供する。【解決手段】 長尺の検査対象に沿わせて光ファイバ3を布設すると共に、この光ファイバ3上に上記検査対象の障害を検出するセンサ4を並べ、これらセンサ4が障害を検出したとき上記光ファイバ3に物理的変化を付与するように構成し、この光ファイバ3の一端にこの光ファイバに沿った物理量分布を測定する測定器を接続し、この物理量分布から上記障害の位置を検出する障害位置検出システムにおいて、上記光ファイバ3を上記検査対象に往復させてループ状に布設し、この光ファイバ3の往復いずれの一端からでも障害の位置を検出できるようにした。
Claim (excerpt):
長尺の検査対象に沿わせて光ファイバを布設すると共に、この光ファイバ上に上記検査対象の障害を検出するセンサを並べ、これらセンサが障害を検出したとき上記光ファイバに物理的変化を付与するように構成し、この光ファイバの一端にこの光ファイバに沿った物理量分布を測定する測定器を接続し、この物理量分布から上記障害の位置を検出する障害位置検出システムにおいて、上記光ファイバを上記検査対象に往復させてループ状に布設し、この光ファイバの往復いずれの一端からでも障害の位置を検出できるようにしたことを特徴とする障害位置検出システム。
IPC (4):
G01B 11/00 ,  G01J 1/02 ,  G01V 9/00 ,  G01V 8/16
FI (4):
G01B 11/00 A ,  G01J 1/02 M ,  G01V 9/00 F ,  G01V 9/04 F
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (1)
  • 特開昭54-150160

Return to Previous Page