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J-GLOBAL ID：200903087732438550

3次元寸法計測装置及び3次元寸法計測方法

Inventor： 沼田 祥平 ,  高木 太郎
Applicant, Patent owner： 株式会社日立製作所
Agent (1)： 作田 康夫
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2002037581
Publication number (International publication number)：2003240527
Application date： Feb. 15, 2002
Publication date： Aug. 27, 2003
Summary：

【要約】【課題】本発明の目的は、外部から直接計測できない内部構造を有する計測対象物の3次元寸法を、X線CT撮像装置を利用してボクセル幅以下の分解能で高速に計測できる3次元寸法計測装置及び3次元寸法計測方法を提供することにある。【解決手段】本発明による3次元寸法計測装置は、計測対象物の3次元ビットマップデータを取得するX線CT撮像装置と、前記3次元ビットマップデータに対応する画像を表示する表示装置と、前記画像に計測プローブの走査経路を定義する計測条件定義手段と、前記3次元ビットマップデータ上で前記走査経路に対応する経路に沿って計測プローブを走査して前記計測対象物の寸法を計測する計測手段とを備える。

Claim (excerpt)：

計測対象物の3次元ビットマップデータを取得するX線CT撮像装置と、前記3次元ビットマップデータに対応する画像を表示する表示装置と、前記画像に計測プローブの走査経路を定義する計測条件定義手段と、前記3次元ビットマップデータ上で前記走査経路に対応する経路に沿って計測プローブを走査して前記計測対象物の寸法を計測する計測手段と、を備えることを特徴とする3次元寸法計測装置。

IPC (2)：

G01B 15/00 ,  G01N 23/04

FI (2)：

G01B 15/00 A ,  G01N 23/04

F-Term (20)：

2F067AA04 ,  2F067AA21 ,  2F067AA52 ,  2F067AA67 ,  2F067HH04 ,  2F067JJ03 ,  2F067KK00 ,  2F067KK06 ,  2F067RR35 ,  2F067SS13 ,  2G001AA01 ,  2G001BA11 ,  2G001CA01 ,  2G001HA01 ,  2G001HA13 ,  2G001HA14 ,  2G001JA08 ,  2G001KA05 ,  2G001PA12 ,  2G001PA14