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J-GLOBAL ID：200903087750503741
内径非接触測定装置
Inventor：
,
Applicant, Patent owner：
,
Agent (1)：
沼形 義彰 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1994304776
Publication number (International publication number)：1996155794
Application date： Dec. 08, 1994
Publication date： Jun. 18, 1996
Summary：
【要約】【目的】 小径でかつ長い細穴をもつワークを正確に測定する測定装置を提供する。【構成】 内径非接触測定装置1は、フレーム10上にとりつけられるベース15とベース15に立設されるコラム20を有する。ベース上にはテーブル50がとりつけられ、サーボモータによりX軸,Y軸方向に移動し、位置決めされる。テーブル50はワークの取付装置520が装備される。コラム20にはZ軸方向に移動する測定ヘッドを有する3基の測定ステーション31,32,33が設けられる。第1の測定ステーション31は穴の内壁面を検査する内視鏡を有し、内壁面をモニター60に表示して表面粗度を測定する。第2,第3の測定ステーション32,33はエアマイクロメータ又は静電圧計を備え、穴の内径寸法と穴の真直度を測定する。テーブル50や各測定ステーションは、制御盤71上に設けた操作レバー710により操作される。
Claim (excerpt)：
フレームと、フレーム上に防振材を介して載置されるベースと、ベース上に配設されて内径を測定するワークの穴を垂直方向に向けて取付けるワーク取付装置を備えるテーブルと、テーブルを水平方向の直交する2軸に沿って移動させるテーブル駆動装置と、テーブルの移動軸線に対して垂直方向に配設されるコラムと、コラムに装備される測定ステーションを有し、測定ステーションは、穴の内径壁面の表面粗度を測定する第1の測定ステーションと、穴の内径寸法を測定する第2の測定ステーションと、穴の真直度を測定する第3のステーションを備えてなる内径非接触測定装置。
IPC (4)：
B23Q 17/20
, B23Q 3/06 301
, B23Q 17/24
, G01B 13/10
