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J-GLOBAL ID：200903087754822108
インパルス試験器
Inventor：
,
Applicant, Patent owner：
,
Agent (1)：
渡辺 秀治
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1997157916
Publication number (International publication number)：1998332758
Application date： May. 30, 1997
Publication date： Dec. 18, 1998
Summary：
【要約】【課題】 低電圧から高電圧の領域までの広い範囲で安定的なサージ出力を発生させると共に、安定した高電圧、大電流のサージ出力を得ること。また、モニタされるサージ波形の表示位置がずれないようにする。【解決手段】 電圧および電流を制御する制御回路部2と、高圧発生回路部3と、制御回路部2からのタイミングによってサージ出力を発生するサージ発生回路部4とを備え、サージ発生回路部4に、高電圧領域でサージ出力を発生させる高圧スイッチング部と、低電圧領域でサージ出力を発生させる低圧スイッチング部とを設け、両スイッチング部の特性をほぼ同一としている。また、サージ波形をモニタするためのモニタ用トリガ信号を、発生したサージ出力を利用して生成するモニタトリガ用回路部103を設けている。
Claim (excerpt)：
電圧および電流を制御する制御回路部と、高電圧発生回路部と、上記制御回路部からのタイミングによってサージ出力を発生するサージ発生回路部とを備え、上記サージ発生回路部に、高電圧領域で上記サージ出力を発生させる高圧スイッチング部と、低電圧領域で上記サージ出力を発生させる低圧スイッチング部とを設け、両スイッチング部の特性をほぼ同一としたことを特徴とするインパルス試験器。
IPC (2)：
FI (2)：
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