Pat

J-GLOBAL ID：200903087798286327

インピーダンスCTを用いた計測システム

Inventor： 冨田 勝彦 ,  衣斐 寛之
Applicant, Patent owner： 株式会社堀場製作所
Agent (1)： 藤本 英夫
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1996118310
Publication number (International publication number)：1997281066
Application date： Apr. 15, 1996
Publication date： Oct. 31, 1997
Summary：

【要約】【課題】 細胞などの微生物や、ゴミ、気泡などの異物や、その他の微小物を測定対象とするインピーダンスCTを用いた計測システムを提供することであり、特に、微小物の外形構造の二次元断層計測または三次元断層計測を確実に行うことができる計測システムを提供すること。【解決手段】 適宜厚さの絶縁性基板2に穴3を凹設し、この穴の内周部側面に複数の電極4を互いに絶縁した状態で形成するとともに、前記絶縁性基板の上面に各電極にそれぞれ連なる複数のリード部6を設け、前記穴内に測定試料を配置し、その状態で、前記電極のうちの2つの電流電極とする一方、残りの電極を電圧電極とし、前記電流電極を介して測定試料に電流を流したときに電圧電極によって得られる電位または電圧電極間の電位差に基づいて測定試料の断層情報を得るようにしている。

Claim (excerpt)：

適宜厚さの絶縁性基板に穴を凹設し、この穴の内周部側面に複数の電極を互いに絶縁した状態で形成するとともに、前記絶縁性基板の上面に各電極にそれぞれ連なる複数のリード部を設け、前記穴内に測定試料を配置し、その状態で、前記電極のうちの2つを電流電極とする一方、残りの電極を電圧電極とし、前記電流電極を介して測定試料に電流を流したときに電圧電極によって得られる電位または電圧電極間の電位差に基づいて測定試料の断層情報を得るようにしたことを特徴とするインピーダンスCTを用いた計測システム。

IPC (3)：

G01N 27/02 ,  A61B 5/05 ,  G01B 7/28

FI (3)：

G01N 27/02 D ,  A61B 5/05 B ,  G01B 7/28 A