Pat

J-GLOBAL ID：200903087808777570

三次元形状を計測する方法および装置ならびに三次元形状計測用プログラムを記憶した記憶媒体

Inventor： 室田 直哉 ,  武士 正美 ,  中島 毅
Applicant, Patent owner： スズキ株式会社
Agent (1)： 高橋 勇
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1998372682
Publication number (International publication number)：2000193433
Application date： Dec. 28, 1998
Publication date： Jul. 14, 2000
Summary：

【要約】【課題】 精度を落さずに取扱いを容易とする距離画像データを生成すること。【解決手段】 受光工程A2にて受光した計測光の順序に基づいて各受光素子に対応する位置ごとに空間コードを特定する空間コード特定工程A3と、受光平面上の各受光素子のうち計測光を受光しなかった受光素子を抽出する測定不能点抽出工程A4と、この測定不能点抽出工程A4にて抽出された測定不能点の空間コードについて当該測定不能点の近傍の受光素子での空間コードの値に基づく補完値を算出する補完工程A5と、この空間コード処理工程A3乃至A5にて算出された空間コードと受光素子の位置とに基づいて予め定められた座標系での原点から測定対象物の表面までの距離を各受光素子毎に算出する距離算出工程A6とを備えた。

Claim (excerpt)：

測定対象物を含む空間を分割する空間コードに対応した計測光を照射する照射工程と、この照射工程で照射された計測光の照射角度に対して予め定められた角度をなす受光平面に二次元に配列された各受光素子にて当該計測光を受光する受光工程と、この受光工程にて受光した計測光の順序に基づいて各受光素子に対応する位置ごとに空間コードを算出する空間コード処理工程と、この空間コード処理工程にて算出された空間コードと前記受光素子の位置とに基づいて予め定められた座標系での原点から前記測定対象物の表面までの距離を各受光素子毎に算出する距離算出工程とを備えた三次元形状計測方法において、前記空間コード処理工程が、前記受光平面上の各受光素子のうち前記計測光を受光しなかった受光素子を抽出する測定不能点抽出工程と、この測定不能点抽出工程にて抽出された測定不能点の空間コードについて当該測定不能点の近傍の受光素子での空間コードの値に基づく補完値を算出する補完工程とを備えたことを特徴とする三次元形状計測方法。

F-Term (12)：

2F065AA04 ,  2F065AA53 ,  2F065FF01 ,  2F065FF04 ,  2F065GG04 ,  2F065HH05 ,  2F065HH12 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ26 ,  2F065LL13 ,  2F065QQ31 ,  2F065UU05