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J-GLOBAL ID：200903087974827224
超音波探傷の異常信号抽出装置および該異常信号の抽出方法
Inventor：
,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
横井 幸喜
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993069424
Publication number (International publication number)：1994258300
Application date： Mar. 04, 1993
Publication date： Sep. 16, 1994
Summary：
【要約】【目的】 超音波探傷における異常信号を、ノイズや形状信号と混同することなく正確に抽出する。【構成】 超音波探傷信号をA/D変換器5でデジタル変換し、A/D変換された健全部探傷信号からしきい値演算部7でしきい値を決定し、このしきい値を探傷位置情報とともに記憶部8に記憶し、読取部6によって記憶部8から探傷位置情報に基づいてしきい値を読みだして、デジタル変換された測定部探傷信号とを比較部9で比較する。【効果】 形状変化の情報を含むしきい値が得られ、このしきい値と測定信号とを比較することにより、傷などの欠陥部による異常信号を正確に抽出することができる。
Claim (excerpt)：
超音波探傷信号をデジタル変換するA/D変換器と、A/D変換された健全部探傷信号からしきい値を決定するしきい値演算部と、このしきい値を探傷位置情報とともに記憶する記憶部とを有し、さらにこの記憶部から探傷位置情報に基づいてしきい値を読みだす読取部と、読取部で読みだしたしきい値と前記A/D変換器でデジタル変換された測定部探傷信号とを比較する比較部とを有することを特徴とする超音波探傷の異常信号抽出装置
Patent cited by the Patent：
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