Pat

J-GLOBAL ID：200903087986237414

粒度分布測定装置

Inventor： 丹羽 猛
Applicant, Patent owner： 株式会社島津製作所
Agent (1)： 西田 新
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1994267657
Publication number (International publication number)：1996128942
Application date： Oct. 31, 1994
Publication date： May. 21, 1996
Summary：

【要約】【目的】 従来の装置に比してより低濃度の試料でも十分に測定可能なレーザ回折/散乱式粒度分布測定装置を提供する。【構成】 被測定粒子群の存在していない状態での光強度分布データを各角度ごとに記憶する記憶手段10aと、その各記憶内容をアナログ化して、それぞれ該当の光センサ5a〜5nの出力からアンプ7a〜7nの前段で減算する回路手段11a〜11n、12a〜12nを設け、アンプ7a〜7nに被測定粒子群による純粋な回折/散乱光の強度信号を供給するように構成する。

Claim (excerpt)：

分散状態の被測定粒子群に平行レーザ光を照射することによって得られる回折/散乱光を、複数の回折/散乱角の位置にそれぞれ配置された光センサによって受光し、その各光センサの出力をそれぞれプリアンプおよびアンプを介して増幅した後、デジタル化して演算部に取り込み、その回折/散乱光強度分布データを用いて被測定粒子群の粒度分布を算出する装置において、被測定試料の存在していない状態での各角度ごとの光強度データを個別に記憶する記憶手段と、その各記憶内容をアナログ化して、それぞれ該当の光センサの出力からアンプの前段で減算する回路手段を備えていることを特徴とする粒度分布測定装置。

IPC (2)：

G01N 15/02 ,  G01N 15/14